这个信息适用于:雷竞技raybet安捷伦GC系统和火焰离子化检测器(FID)
问题
高温烘烤出火焰离子化检测器可以删除样本污染物沉积在探测器的表面。
步骤
注意FID信号输出的值进行比较与烘焙后的价值。
确定需要删除列。烘焙温度探测器350到375°C。如果这个烤温度超过列制造商的温度上限,否则删除列,直接跳到步骤4:
加载正常操作流程。如果列尚未从GC入口,维持惰性载体气体流经列。
光支撑材火焰。
烘焙温度设置温度区:
谨慎:不超过列制造商推荐的温度,因为它会损害列。烘焙温度超过推荐的温度,如果删除列和关闭入口气体流动。
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设置检测器温度350 - 375°C,或25°C高于正常操作温度。
将烤箱温度设置为250或25°C以上正常的最高工作温度。不超过进口温度。
温度维持在30分钟或直到基线稳定在一个较低的价值。基线通常会上升,然后下降到最后一个值低于初始基线(图1):
允许仪器和降温重新安装的列如果合适。
负载正常的分析方法,并允许系统平衡。
检查支撑材输出价值。它应低于第一个阅读。
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