这个信息适用于:微型电子俘获检测器(uECD)
问题
烘焙微观电子俘获检测器(µECD)在高温下可以删除样本污染物沉积在探测器的表面。
警告:µECD使用危险的β- - - x光辐射,包裹在一个安全的住房。辐射可能导致受伤和伤害。
运营商可能会执行一个µECD烤。人员培训和授权适当处理放射性物质必须执行所有其他维修程序。
|
步骤
注意的价值µECD烘焙后信号输出与价值。
如果列最高温度< 250°C,从探测器删除列,否则,跳步骤4:
设置正常检测器操作流。如果列尚未从GC入口,维持惰性载体气体流经列。
设置烘烤温度:温度区域
谨慎:不超过列制造商推荐的温度,因为它会损害列。如果烘烤温度超过推荐的温度,删除列和关闭入口气体流动。
|
设置检测器温度350到375°C和气体流量占60毫升/分钟。
如果安装在µECD列,设置烤箱温度为250°C。如果列是卸载,离开烤箱。
烤出的GC入口看到的如何烘焙分流/不分流进样口(S / SL)安捷伦GC系统雷竞技raybet。
在烘烤温度数小时或直到基线稳定在一个较低的价值。基线通常会上升,然后下降到最后一个值低于初始基线(图1):
允许仪器冷却和重新安装的列如果合适。
负载正常的分析方法,并允许系统平衡。
检查µECD输出值。它应低于第一个阅读。如果不是,请联系您当地的安捷伦的支持雷竞技raybet
学习如何有效地操作你的安捷伦GC探测器:雷竞技raybet GC - 0 - gen - 1013 s - GC探测器理论和操作电子学习课程可以从安捷伦教育。雷竞技raybet |